Лазерная подгонка
Основой контроля процесса подгонки резисторов, резисторных матриц, гибридных схем является контроль напряжений. Подгонка по частотным параметрам осуществляется с использованием приборов, контролирующих временные интервалы.
Управление подгонкой может осуществляться при автоматической смене элементов. Например, группа резисторов может подгоняться последовательно с тем, чтобы в заключение достичь требуемых параметров всей резисторной матрицы. Номиналы некоторых элементов схем автоматически подгоняются до достижения требуемого баланса между ними и до определенной формы сигналов.
В процессе подгонки осуществляются записи параметров серии микросхем. По этим записям специальные устройства могут вычислить процентные соотношения резисторов или микросхем в целом, которые соответствуют допускам. Таблицы выводятся на печать автоматически.
Лазерная подгонка как способ контроля параметров микросхем. Одно из преимуществ лазерной подгонки заключается в том, что она применяется в конце цикла производства микросхем и может использоваться благодаря проводимым в процессе подгонки записям, для контроля качества микросхем. Анализ качества отдельных серий дает представление о качестве продукции в целом.
